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4.8 KiB
C
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C
#include "bsp_adc.h"
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#include "bsp_uart.h"
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#include "log.h"
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#undef LOG_ENABLE
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#define LOG_ENABLE 1
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#undef LOG_TAG
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#define LOG_TAG "adc"
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// https://www.cnblogs.com/gscw/p/17682385.html
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// 计算公式参考手册，建议使用 “建议实际可用测量电压范围” 作为 ADC 采集的增益选择判断标准。计算公式参考手册。
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// 仅使用 ADC 功能，同时降低功耗，可以将引脚的数字输入功能关闭，配置 R16_PIN_ANALOG_IE。 注：如果引脚用于模拟功能（ADC/TouchKey），建议将该引脚的数字输入功能关闭，即设置数字输入禁用，从而可以降低功耗，并有利于减少干扰。
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// PA9 引脚进行 ADC 采集，在置为浮空后，过 300ms 左右再进行 ADC 的采集。因为初次烧录的时候 boot 是串口功能开启的，PA9 是输出高电平。切换到浮空会需要等待时间。
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uint16_t adcBuff[40];
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volatile uint8_t adclen;
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volatile uint8_t DMA_end = 0;
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signed short RoughCalib_Value = 0; // ADC粗调偏差值
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uint32_t countadc = 0;
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uint16_t min_number = 0;
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uint16_t max_number = 0;
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double voltage = 0;
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void BSP_ADC_Init(void)
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{
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uint8_t i;
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#if 0
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// ±10C，没啥参考价值
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/* 温度采样并输出 */
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logDebug("\n1.Temperature sampling...\n");
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ADC_InterTSSampInit();
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for (i = 0; i < 20; i++)
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{
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adcBuff[i] = ADC_ExcutSingleConver(); // 连续采样20次
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}
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for (i = 0; i < 20; i++)
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{
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uint32_t C25 = 0;
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C25 = (*((PUINT32)ROM_CFG_TMP_25C));
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logDebug("%d %d %d \n", adc_to_temperature_celsius(adcBuff[i]), adcBuff[i], C25);
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}
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#endif
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#if 1
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// VBAT
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uint32_t CountBat = 0;
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ADC_InterBATSampInit();
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for (i = 0; i < 20; i++)
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{
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adcBuff[i] = ADC_ExcutSingleConver(); // 连续采样20次
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}
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for (i = 0; i < 20; i++)
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{
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CountBat += adcBuff[i];
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if (i == 0)
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{
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min_number = adcBuff[i];
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max_number = adcBuff[i];
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}
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min_number = ((min_number > adcBuff[i]) ? adcBuff[i] : min_number); // 软件滤波
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max_number = ((max_number < adcBuff[i]) ? adcBuff[i] : max_number);
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}
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logDebug("min_number = %d, max_number = %d", min_number, max_number);
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CountBat = (CountBat - min_number - max_number) / 18; // 删除最小与最大值
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logDebug("AverageCountBat = %d", CountBat);
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#endif
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// 默认情况下，ADC 引脚和所在 GPIO 引脚的数字功能是同时存在的
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// ，在进行 ADC 测量时候，需要吧 GPIO 设置为高阻输入
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// ，当 ADC 的电平处于中间态的时候，这时候往往会导致数字部分漏电
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// ，这时候我们可以通过寄存器 R16_PIN_ANALOG_IE 来禁用相关的 AIN 通道所在的数字功能:
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R32_PIN_CONFIG2 |= (1U << 13);
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/* 单通道采样：选择adc通道3做采样，对应 PA13引脚， 带数据校准功能 */
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GPIOA_ModeCfg(GPIO_Pin_13, GPIO_ModeIN_Floating);
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// -6dB (1/2 倍) (ADC/1024-1)*Vref 3*Vref -0.2V ～ 3.15V 1.9V ～ 3V
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// 0db (1 倍) (ADC/2048)*Vref 2*Vref 0V ～ 2.1V 0V ～ 2V
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// 6db (2 倍) (ADC/4096+0.5)*Vref 1.5*Vref 0.525V ～ 1.575V 0.6V ～ 1.5V
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ADC_ExtSingleChSampInit(SampleFreq_3_2, ADC_PGA_0);
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RoughCalib_Value = ADC_DataCalib_Rough(); // 用于计算ADC内部偏差，记录到全局变量 RoughCalib_Value中
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logDebug("RoughCalib_Value =%d", RoughCalib_Value);
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// 刚上电，要给电容充电
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DelayMs(300);
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logDebug("PA13:::::");
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ADC_ChannelCfg(3);
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for (i = 0; i < 20; i++)
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{
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adcBuff[i] = ADC_ExcutSingleConver() + RoughCalib_Value; // 连续采样20次
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// DelayMs(5);
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}
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logDebug("original: ");
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logHexDumpAll(adcBuff, 20);
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// 注意：由于ADC内部偏差的存在，当采样电压在所选增益范围极限附近的时候，可能会出现数据溢出的现象
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for (i = 0; i < 20; i++)
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{
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countadc += adcBuff[i];
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if (i == 0)
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{
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min_number = adcBuff[i];
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max_number = adcBuff[i];
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}
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min_number = ((min_number > adcBuff[i]) ? adcBuff[i] : min_number); // 软件滤波
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max_number = ((max_number < adcBuff[i]) ? adcBuff[i] : max_number);
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}
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logDebug("min=%d, max=%d, diff=%d", min_number, max_number, (max_number - min_number));
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countadc = (countadc - min_number - max_number) / 18; // 删除最小与最大值
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logDebug("countaveradc = %d", countadc);
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/*
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int16_t adc_raw;
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adc_raw = ADC_ExcutSingleConver() + RoughCalib_Value;
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//PGA=-12db
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voltage_mv = adc_raw*1050/512 - (3*1050);
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//PGA=-6db
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voltage_mv = adc_raw*1050/1024 - (1*1050);
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//PGA=0db
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voltage_mv = adc_raw*1050/2048;
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//PGA=6db
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voltage_mv = adc_raw*1050/4096 + (1050/2);
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*/
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voltage = (double)(countadc) / 2048 * 1.05;
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logDebug("voltage=%1.3lf V", voltage);
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logDebug("VIN: %1.3lf V", voltage * 2);
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}
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